dc.contributor.author | Kvedaras, Vygaudas | |
dc.contributor.author | Mackevičius, S. | |
dc.date.accessioned | 2023-09-18T16:53:00Z | |
dc.date.available | 2023-09-18T16:53:00Z | |
dc.date.issued | 1993 | |
dc.identifier.issn | 0204-2134 | |
dc.identifier.other | (BIS)VGT02-000032044 | |
dc.identifier.uri | https://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/117640 | |
dc.description.abstract | Рассматривается разработанная схема специализированного измерителя времен установления быстродействующих 10-разрядных ЦАП. В измерителе использованы разработанные компенсационные стробоскопические преобразователи с двумя кварцевыми генераторами, работающие в режиме пикового детектирования. В измерителе для уменьшения погрешностей измерения, кроме того, применены схема импульсного ФАПЧ и схема импульсной АРУ. В последней схеме независимо от уровня и амплитуды сигнала на входе уровень и амплитуда сигнала на ее выходе устанавливаются заданной величины. Проведенный анализ погрешностей показывает, что суммарная погрешность составляет не более +- 4 %. Построены четыре измерителя времен установления быстродействующих 8- и 10-разрядных ЦАП 1118ПА1 – 1118ПА4 с временем измерения 3-150 но, с погрешностью не более +-5%, производительностью – не менее 3000 тест/час. | rus |
dc.description.abstract | The structural network of a special sampling settling time tester of fast 10-bit DAC is considered. The tester is applied with designed compensating sampling units containing two crystal generators and performing in peak detectoring mode. Four tester samples for DAC like 1118ПA1 - 1118ПA4 are presented. The tester defines settling time measurement ranging from 3ns to 150ns and ensures the performance of no less than 3,000 test/h (excluding IS loading time). The measurement accuracy is about 5% max. | eng |
dc.format.extent | p. 92-98 | |
dc.format.medium | tekstas / txt | |
dc.language.iso | lit | |
dc.title | Stroboskopinis SAK nusistovėjimo laikų matuoklis | |
dc.title.alternative | Стробоскопический измеритель времен установления ЦАП | |
dc.title.alternative | Sampling DAC settling time tester | |
dc.type | Straipsnis kitame recenzuotame leidinyje / Article in other peer-reviewed source | |
dcterms.references | 5 | |
dc.type.pubtype | S4 - Straipsnis kitame recenzuotame leidinyje / Article in other peer-reviewed publication | |
dc.contributor.institution | Vilniaus Gedimino technikos universitetas | |
dc.contributor.institution | Nežinomas | |
dc.contributor.faculty | Elektronikos fakultetas / Faculty of Electronics | |
dc.subject.researchfield | T 001 - Elektros ir elektronikos inžinerija / Electrical and electronic engineering | |
dcterms.sourcetitle | Radioelektronika : mokslo darbai | |
dc.description.issue | Nr. 3 | |
dc.description.volume | T. 29 | |
dc.publisher.name | Technika | |
dc.publisher.city | Vilnius | |
dc.identifier.elaba | 20739857 | |