Modeling of defects in electronic navigation devices operating in extreme conditions

Abstract

An investigation of the corrosive and mechanical destruction of microelectronic objects such as multipurpose sensors and navigating devices used in the airspace industry in extreme conditions such as variable temperature, pressure and environmental composition is described. The appearance and growth of micro cracks and other defects in metallic parts and conductors of micro devices due to external actions are investigated. The structural features of defect-testing devices improved on the basis of magnetic modulation sensitive iron elements are analyzed. Mathematical modeling for the most characteristic types of defects is performed and the forecast growth of defects within 6% accuracy is achieved.

Atlikti mikroelektronikos objektų, eksploatuojamų ekstremaliomis sąlygomis bei esant kintamoms temperatūroms, slėgiui, darbinės aplinkos sudėčiai, irimo tyrimai, tarp jų - mikroįtrūkimų ir kitų defektų atsiradimo bei augimo mikroprietaisų metalinėse dalyse ir laidininkuose. Pagerinti prietaisų, gaminamų fero-moduliacinių elementų pagrindų ir skirtų mikroprietaisų defektų kontrolei, konstruktyviniai sprendimai. Sudarytas matematinis modelis, leidžiantis analizuoti būdingiausių rūšių defektus ir iki 6% tikslumu prognozuoti defektų plitimą.