Rodyti trumpą aprašą

dc.contributor.authorBarauskas, Rimantas
dc.contributor.authorKasparaitis, Albinas
dc.contributor.authorKaušinis, Saulius
dc.contributor.authorLazdinas, Rimantas
dc.date.accessioned2023-09-18T17:26:59Z
dc.date.available2023-09-18T17:26:59Z
dc.date.issued2011
dc.identifier.issn1392-1207
dc.identifier.other(BIS)KTU02-000045430
dc.identifier.urihttps://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/123224
dc.description.abstractIn this article the influence of internal thermal sources of line position detection microscope onto scale error calibration accuracy is analyzed. Short description of the microscope temperature fields and thermal body de-formation modelling methodology is proposed, eva-luating internal heat sources of microscope. The modelling results graphs showing the influence heat sources onto microscope temperature field. The resulting temperature deformations are given. Draw conclusions about the processes in ques-tion affect the scale calibration accuracy.eng
dc.description.abstractStraipsnyje nagrinėjama brūkšnių padėčiai nustatyti skirta mikroskopo vidinių šilumos šaltinių įtaka skalių paklaidų kalibravimo tikslumui. Trumpai pateikiama mikroskopo temperatūrinių laukų ir deformacijų modeliavimo metodika, įvertinanti vidinius mikroskopų šilumos šaltinius. Grafiškai iliustruojami modeliavimo rezultatai, rodantys šilumos šaltinių poveikį mikroskopų temperatūriniams laukams, bei dėl to atsirandančios temperatūrinės deformacijos. Pateikiamos išvados apie nagrinėjamų procesų įtaką skalių kalibravimo tikslumui.lit
dc.formatPDF
dc.format.extentp. 279-283
dc.format.mediumtekstas / txt
dc.language.isoeng
dc.relation.isreferencedbyScience Citation Index Expanded (Web of Science)
dc.relation.isreferencedbyScopus
dc.relation.isreferencedbyINSPEC
dc.relation.isreferencedbyCompendex
dc.relation.isreferencedbyAcademic Search Complete
dc.rightsLaisvai prieinamas internete
dc.source.urihttps://talpykla.elaba.lt/elaba-fedora/objects/elaba:3140859/datastreams/MAIN/content
dc.titleTemperature fields, exchanges and deformations of a precise length comparator microscope
dc.typeStraipsnis Web of Science DB / Article in Web of Science DB
dcterms.licenseCreative Commons – Attribution – 4.0 International
dcterms.references13
dc.type.pubtypeS1 - Straipsnis Web of Science DB / Web of Science DB article
dc.contributor.institutionKauno technologijos universitetas
dc.contributor.institutionVilniaus Gedimino technikos universitetas
dc.contributor.facultyMechanikos fakultetas / Faculty of Mechanics
dc.subject.researchfieldT 009 - Mechanikos inžinerija / Mechanical enginering
dc.subject.researchfieldT 010 - Matavimų inžinerija / Measurement engineering
dcterms.sourcetitleMechanika
dc.description.issueno. 3
dc.description.volumevol. 17
dc.publisher.nameTechnologija
dc.publisher.cityKaunas
dc.identifier.doiVGT02-000023028
dc.identifier.doi000292878800009
dc.identifier.doi2-s2.0-79960056423
dc.identifier.doi1
dc.identifier.doi10.5755/j01.mech.17.3.503
dc.identifier.elaba3140859


Šio įrašo failai

Thumbnail
Thumbnail

Šis įrašas yra šioje (-se) kolekcijoje (-ose)

Rodyti trumpą aprašą