Show simple item record

dc.contributor.authorJokela, J.
dc.contributor.authorBūga, Arūnas
dc.contributor.authorPutrimas, Raimundas
dc.contributor.authorTulevičius, Vytautas
dc.date.accessioned2023-09-18T18:43:18Z
dc.date.available2023-09-18T18:43:18Z
dc.date.issued2002
dc.identifier.other(BIS)VGT02-000003551
dc.identifier.urihttps://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/130792
dc.format.extentp. 200
dc.format.mediumtekstas / txt
dc.language.isoeng
dc.titleAnalysis of repeated calibration of Kyviškės baseline
dc.typeKonferencijos pranešimo santrauka / Conference presentation abstract
dc.type.pubtypeT2 - Konferencijos pranešimo tezės / Conference presentation abstract
dc.contributor.institutionFinnish Geodetic Institute
dc.contributor.institutionVilniaus Gedimino technikos universitetas
dc.contributor.facultyAplinkos inžinerijos fakultetas / Faculty of Environmental Engineering
dc.subject.researchfieldT 010 - Matavimų inžinerija / Measurement engineering
dcterms.sourcetitle5-osios Tarptautinės konferencijos "Aplinkos inžinerija" programa ir santraukos : Vilniaus Gedimino technikos universitetas 2002 m. gegužės 23-24
dc.publisher.nameTechnika
dc.publisher.cityVilnius
dc.identifier.elaba3596785


Files in this item

FilesSizeFormatView

There are no files associated with this item.

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record