| dc.contributor.author | Bručas, Domantas | |
| dc.contributor.author | Sužiedelytė Visockienė, Jūratė | |
| dc.date.accessioned | 2023-09-18T19:12:49Z | |
| dc.date.available | 2023-09-18T19:12:49Z | |
| dc.date.issued | 2011 | |
| dc.identifier.other | (BIS)VGT02-000024924 | |
| dc.identifier.uri | https://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/136618 | |
| dc.description.abstract | Išradimas priklauso matavimo technikos ir technologijų sritims ir skirtas prietaisų, naudojamų pramonėje, gamyboje, moksle kampų matavimo tikslumui nustatyti. Siūlomas išradimas pagrįstas prietaisų kampų kalibravimo ir fotogrametrinio būdų apjungimu. Kalibravimo plokštelė (2) su ryškiomis markėmis (taškais), reikalingomis fotonuotraukų fotogrametriniam apdorojimui, bet kurioje padėtyje pritaisoma prie kalibruojamojo kampų matavimo (ar pozicionavimo) prietaiso sukamosios dalies (1). Kalibravimo plokštelė (2) sukasi kartu su kalibruojamojo prietaiso sukamąja dalimi. Tam tikru atstumu nuo kalibruojamojo prietaiso statomas stovas su dviem skaitmeninėmis aukšto tikslumo fotokameromis (3). Kalibravimo metu kalibruojamojo prietaiso sukamoji dalis pasukama tam tikru kalibravimo kampu, sustabdžius sukimą fotokameromis daromos dvi (ar daugiau) tarpusavyje persidengiančios kalibravimo plokštelės fotonuotraukos. Pasukus prietaiso sukamąją dalį kitu kampu, procedūra kartojama. Fotonuotraukas apdorojus fotogrametrinėmis kompiuterinėmis programomis, gaunamas kalibravimo plokštelės markių geometrinis modelis. Kompiuterinėmis projektavimo programomis pagal taškų modelių duomenis nubraižoma vidutinė taškų plokštuma kiekvienam kalibravimo žingsniui, išmatuojamas erdvinis kampas tarp šių plokštumų. Gautas kampas sulyginamas su kalibruojamojo prietaiso rodmenimis. Šiuo būdu galima kalibruoti bet kokį erdvinį kampą. Plokštelės matmenys ir padėtis kalibruojamojo prietaiso sukimosi ašies atžvilgiu gali skirtis. | lit |
| dc.format.medium | tekstas / txt | |
| dc.language.iso | lit | |
| dc.source.uri | http://lt.espacenet.com | |
| dc.title | Kampų matavimo prietaisų kalibravimo būdas : patentas | |
| dc.type | Patentai, įregistruoti Lietuvoje / Patents registered in Lithuania | |
| dcterms.accessRights | Paraiškos numeris: 2009 047 | Paraiškos padavimo data: 2009 07 10 | Paraiškos paskelbimo data: 2011 01 25 | Patento paskelbimo data: 2011 06 27 | |
| dc.type.pubtype | N1e - Patentas, įregistruotas Lietuvos patentų biure / Patent registered in the State Patent Bureau of the Republic of Lithuania | |
| dc.contributor.institution | Vilniaus Gedimino technikos universitetas | |
| dc.contributor.faculty | Antano Gustaičio aviacijos institutas / Antanas Gustaitis Aviation Institute | |
| dc.contributor.faculty | Aplinkos inžinerijos fakultetas / Faculty of Environmental Engineering | |
| dc.subject.researchfield | T 010 - Matavimų inžinerija / Measurement engineering | |
| dc.publisher.city | Vilnius | |
| dc.identifier.elaba | 3989398 | |
| dc.identifier.number | LT 5735B | |
