Show simple item record

dc.contributor.authorMontvilas, Algirdas Mykolas
dc.date.accessioned2023-09-18T19:47:55Z
dc.date.available2023-09-18T19:47:55Z
dc.date.issued2006
dc.identifier.issn1392-1215
dc.identifier.other(BIS)VGT02-000014391
dc.identifier.urihttps://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/143383
dc.description.abstractVarious procedures are used for mapping of multidimensional data onto the plane. Sammon’s method of simultaneous nonlinear mapping onto the plane is very popular. In addition, sequential nonlinear mapping has been created for watching the data in real time. The essence of mapping is to preserve the inner structure of distances among the vectors in multidimensional space after mapping them onto the plane. The mapping error characterizes the mapping quality, and it depends on initial conditions and data structure. The paper deals with investigations of how data structure influences on mapping quality. Plenty experiments have been executed at various number of parameters and various number of vectors using regular data (having information about clusters) and random data. The experiments allowed to draw conclusions that mapping error increases increasing the number of parameters, and it remains almost constant increasing the number of vectors. Besides, mapping error of regular data is several times less than that of random data.eng
dc.description.abstractDaugiamačiams duomenims atvaizduoti plokštumoje naudojamos įvairios procedūros. Labai paplitęs yra Sammono vienalaikio netiesinio daugiamačių duomenų atvaizdavimo plokštumoje metodas. Daugiamačiams duomenims stebėti realiu laiku sukurtas nuoseklaus atvaizdavimo metodas. Atvaizdavimo esmė – išlaikyti vidinę atstumų tarp duomenų vektorių struktūrą po jų atvaizdavimo. Atvaizdavimo kokybę nusako atvaizdavimo klaida, kuri priklauso nuo pradinių sąlygų ir nuo duomenų struktūros. Darbe ištirta atvaizdavimo klaidos priklausomybė nuo duomenų struktūros. Gausybė eksperimentų, keičiant vektorių parametrų kiekį bei duomenų vektorių kiekį, atvaizduojant reguliarius (turinčius informaciją apie klasterius) bei atsitiktinius duomenis, leidžia daryti išvadas, kad, didėjant parametrų kiekiui, atvaizdavimo klaida didėja, didėjant vektorių kiekiui, atvaizdavimo klaida keičiasi nedaug. Be to, reguliarių duomenų atvaizdavimo klaida yra kelis kartus mažesnė negu atsitiktinių duomenų atvaizdavimo klaida.lit
dc.format.extentp. 34-37
dc.format.mediumtekstas / txt
dc.language.isoeng
dc.relation.isreferencedbyVINITI
dc.relation.isreferencedbyINSPEC
dc.source.urihttps://eejournal.ktu.lt/index.php/elt/article/view/10553
dc.titleData structure influence on mapping error
dc.title.alternativeDuomenų struktūros įtaka atvaizdavimo klaidai
dc.typeStraipsnis kitoje DB / Article in other DB
dcterms.references7
dc.type.pubtypeS3 - Straipsnis kitoje DB / Article in other DB
dc.contributor.institutionVilniaus Gedimino technikos universitetas Matematikos ir informatikos institutas
dc.contributor.facultyElektronikos fakultetas / Faculty of Electronics
dc.subject.researchfieldT 001 - Elektros ir elektronikos inžinerija / Electrical and electronic engineering
dc.subject.researchfieldT 007 - Informatikos inžinerija / Informatics engineering
dcterms.sourcetitleElektronika ir elektrotechnika
dc.description.issueNo. 1(65)
dc.publisher.nameTechnologija
dc.publisher.cityKaunas
dc.identifier.doiLBT02-000023435
dc.identifier.elaba3775557


Files in this item

FilesSizeFormatView

There are no files associated with this item.

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record