• Lietuvių
    • English
  • Lietuvių 
    • Lietuvių
    • English
  • Prisijungti
Peržiūrėti įrašą 
  •   DSpace pagrindinis
  • Mokslinės publikacijos (PDB) / Scientific publications (PDB)
  • Moksliniai ir apžvalginiai straipsniai / Research and Review Articles
  • Straipsniai Web of Science ir/ar Scopus referuojamuose leidiniuose / Articles in Web of Science and/or Scopus indexed sources
  • Peržiūrėti įrašą
  •   DSpace pagrindinis
  • Mokslinės publikacijos (PDB) / Scientific publications (PDB)
  • Moksliniai ir apžvalginiai straipsniai / Research and Review Articles
  • Straipsniai Web of Science ir/ar Scopus referuojamuose leidiniuose / Articles in Web of Science and/or Scopus indexed sources
  • Peržiūrėti įrašą
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Microstrip impedance management through multilayer PCB stack-up: Discontinuity compensation voids with asymmetric dielectrics

Thumbnail
Data
2021
Autorius
Vasjanov, Aleksandr
Barzdėnas, Vaidotas
Metaduomenys
Rodyti detalų aprašą
Santrauka
To process high-frequency signals on a printed circuit board (PCB), it is often necessary to carefully analyze and select the pad widths of the chip packages and components to match their impedance to the standard Z0. Modern PCBs are complex multilayer designs, utilizing either only high-end laminates, low-end laminates, or a combination of both. The on-board component footprints usually have larger pads that become discontinuities and corrupt the impedance of critical traces. One way to address this issue is to include reference plane cutouts as a measure of compensation. This paper aims to find out how an asymmetric dielectric stack-up affects the microstrip discontinuity impedance compensation using reference plane cutouts. The selected board layer stack-up imitates several different practical design scenarios, including costly PCBs that strictly comprise high-end dielectric materials, as well as trying to lower PCB cost by introducing low-cost materials without major performance sacrifice. S-parameter measurements are performed and confirmed by time-domain reflectometry (TDR) measurements.
Paskelbimo data (metai)
2021
URI
https://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/111843
Kolekcijos
  • Straipsniai Web of Science ir/ar Scopus referuojamuose leidiniuose / Articles in Web of Science and/or Scopus indexed sources [7946]

 

 

Naršyti

Visame DSpaceRinkiniai ir kolekcijosPagal išleidimo datąAutoriaiAntraštėsTemos / Reikšminiai žodžiai InstitucijaFakultetasKatedra / institutasTipasŠaltinisLeidėjasTipas (PDB/ETD)Mokslo sritisStudijų kryptisVILNIUS TECH mokslinių tyrimų prioritetinės kryptys ir tematikosLietuvos sumanios specializacijosŠi kolekcijaPagal išleidimo datąAutoriaiAntraštėsTemos / Reikšminiai žodžiai InstitucijaFakultetasKatedra / institutasTipasŠaltinisLeidėjasTipas (PDB/ETD)Mokslo sritisStudijų kryptisVILNIUS TECH mokslinių tyrimų prioritetinės kryptys ir tematikosLietuvos sumanios specializacijos

Asmeninė paskyra

PrisijungtiRegistruotis