Mielių Saccharomyces Cerevisiae ląstelių tyrimai atominių jėgų ir skenuojančios elektrocheminės mikroskopijos metodais

Abstract

Atominių jėgų mikroskopas (AJM), skenuojantis elektrocheminis mikroskopas (SECM), bei kombinuota abiejų mikroskopų technika (AJM-SECM) buvo pritaikyta mielių Saccharomyces Cerevisiae tyrimams. AJM funkcija SECM sistemoje buvo realizuota taikant šlyties jėgos matavimo principą. Taikant šlyties jėgos principą, yra tiksliai nustatomas SECM ultramikroelektrodo (UME) atstumas iki bandinio, tokiu būdu sumažinant UME sugadinimo arba bandinio pažeidimo tikimybes. Šlyties jėgos režimas taip pat buvo taikomas pavienės ląstelės skenavimui, o gautas rezultatas rodo, kad toks režimas gali būti taikomas vietoje brangiai kainuojančio AJM. Papildomai, taikant AJM-SECM, buvo palyginta ląstelių morfologija su ląstelių aktyvumo signalu ir gautas atitikimas tarp ląstelių gyvybingumo sumažėjimo ir ląstelių mechaninių savybių pasikeitimo.

Atomic force microscopy (AFM), scanning electrochemical microscopy (SECM), and combined AFM-SECM techniques were applied for the investigation of Yeasts Saccharomyces Cerevisiae. The AFM-like scanning was realized using shear-force SECM. The advantage of shear-force SECM is high accuracy ultramicroelectrode (UME) positioning, which allows to scan surface of interest safely, without damage of electrode or surface. Single cell scan by shear-force SECM was succesfull, and this means that this technique could be applied instead of costly AFM. Additionally, the cells morphology was compared with cells activity, and it was found that the changes of cells lower activity are related to cells mechanical properties.