• Lietuvių
    • English
  • English 
    • Lietuvių
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace Home
  • Patentai / Patents
  • Lietuvoje įregistruoti patentai / Patents registered in Lithuania
  • View Item
  •   DSpace Home
  • Patentai / Patents
  • Lietuvoje įregistruoti patentai / Patents registered in Lithuania
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Geodezinių prietaisų vertikaliųjų kampų matavimo sistemų kalibravimo būdas

Thumbnail
Date
2012
Author
Giniotis, Vytautas
Šiaudinytė, Lauryna
Bručas, Domantas
Metadata
Show full item record
Abstract
Išradimas yra iš matavimo technikos ir technologijų srities ir gali būti naudojamas geodezinių prietaisų, naudojamų pramonėje, gamyboje, moksle, vertikalių kampų kalibravimui atlikti. Geodezinių prietaisų vertikaliųjų kampų matavimo sistemų kalibravimo būdas, kuriuo matavimus atlieka patalpoje, naudoja brūkšninę skalę kaip etaloną bei lygina kalibruojamąjį kapmą su pamatiniu kampu, be to, prietaiso vertikaliųjų kampų matavimo sistema vizuoja į vertikialios etaloninės skalės brūkšninį matą bei vertikaliuosius kampus nustato pagal trigonometrinius parametrus.
Issue date (year)
2012
URI
https://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/134095
Collections
  • Lietuvoje įregistruoti patentai / Patents registered in Lithuania [157]

 

 

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects / KeywordsInstitutionFacultyDepartment / InstituteTypeSourcePublisherType (PDB/ETD)Research fieldStudy directionVILNIUS TECH research priorities and topicsLithuanian intelligent specializationThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects / KeywordsInstitutionFacultyDepartment / InstituteTypeSourcePublisherType (PDB/ETD)Research fieldStudy directionVILNIUS TECH research priorities and topicsLithuanian intelligent specialization

My Account

LoginRegister