• Lietuvių
    • English
  • Lietuvių 
    • Lietuvių
    • English
  • Prisijungti
Peržiūrėti įrašą 
  •   DSpace pagrindinis
  • Mokslinės publikacijos (PDB) / Scientific publications (PDB)
  • Konferencijų publikacijos / Conference Publications
  • Konferencijų straipsniai / Conference Articles
  • Peržiūrėti įrašą
  •   DSpace pagrindinis
  • Mokslinės publikacijos (PDB) / Scientific publications (PDB)
  • Konferencijų publikacijos / Conference Publications
  • Konferencijų straipsniai / Conference Articles
  • Peržiūrėti įrašą
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Electrodynamical characteristic particularities of waveguides and scattering structures made of modern strong absorptive materials

Thumbnail
Data
2012
Autorius
Nickelson, Liudmila
Metaduomenys
Rodyti detalų aprašą
Santrauka
Here electrodynamical characteristics of open cylindrical waveguides and cylindrical scatterers made of strong absorptive materials are presented. There are unusual peaks (extremums) on characteristic curves of waveguide and scatterer structures. These electrodynamical characteristics are differ from such ones when the structures are made of lossless or low-loss materials. The complex longitudinal propagation constant of the main mode of open SiC waveguide at the temperature I HOOT and several waveguide radii from 1.6 mm till 3.2 mm are demonstrated here. We see that for some radii of waveguides are extremums of phase and attenuation constants. The extremums' frequency is dependent on the waveguide radius. The ones are shifted to the low frequency with increasing of radius. We show here dependences of absorbed powers of incident microwave by a multilayered cylinder with a radius 2 mm. The cylinder consists of a conductor core that is coated by the twenty four lossy n-Si semiconductor and acrylic-glass alternative layers. Here is presented characteristics of multilayered cylinder with the external acrylic-glass layer. The dispersion dependency of semiconductor loss is taken into account here. The thickness of all layers as well as the radius of the conductor core are the same and equal to 0.08 mm. We have compared absorbed power dependences on the microwave polarization and the n-Si specific resistivity. We discovered specific dependences of absorbed powers on the parameters.
Paskelbimo data (metai)
2012
URI
https://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/135266
Kolekcijos
  • Konferencijų straipsniai / Conference Articles [15192]

 

 

Naršyti

Visame DSpaceRinkiniai ir kolekcijosPagal išleidimo datąAutoriaiAntraštėsTemos / Reikšminiai žodžiai InstitucijaFakultetasKatedra / institutasTipasŠaltinisLeidėjasTipas (PDB/ETD)Mokslo sritisStudijų kryptisVILNIUS TECH mokslinių tyrimų prioritetinės kryptys ir tematikosLietuvos sumanios specializacijosŠi kolekcijaPagal išleidimo datąAutoriaiAntraštėsTemos / Reikšminiai žodžiai InstitucijaFakultetasKatedra / institutasTipasŠaltinisLeidėjasTipas (PDB/ETD)Mokslo sritisStudijų kryptisVILNIUS TECH mokslinių tyrimų prioritetinės kryptys ir tematikosLietuvos sumanios specializacijos

Asmeninė paskyra

PrisijungtiRegistruotis