Rodyti trumpą aprašą

dc.contributor.authorBukauskas, Virginijus
dc.contributor.authorŠetkus, Arūnas
dc.date.accessioned2023-09-18T20:28:21Z
dc.date.available2023-09-18T20:28:21Z
dc.date.issued2007
dc.identifier.other(BIS)LBT02-000027820
dc.identifier.urihttps://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/150010
dc.description.abstractTiriami ploni (1-40 mm storio) dujoms jautrūs SnO sluoksniai užauginti magnetroninio dulkinimo metodu. Paviršiaus tyrimams naudojami skenuojančio zondo mikroskopijos (SZM) metodai. Nagrinėjamos SnO plėvelės formavimosi ypatybės, dujų jutiklio elektrinių parametrų priklausomybė nuo paviršiaus topografijos, voltamperinės sluoksnių charakteristikos tam tikruose paviršiaus taškuose.lit
dc.description.abstractThe study deals with gas sensors based on thin (up to 40 nm) tin oxide layers grown by magnetron scattering. Scanning probe microscope (SPM) is used for the urface investigation. We discussed the formation of SnO layer layer, dependence of the gas sensor on the surface topography, I-V characteristics in special points on the surface.eng
dc.format.extentp. 126-132
dc.format.mediumtekstas / txt
dc.language.isolit
dc.titleDujoms jautrios SNO plėvelės formavimosi ir savybių kitimo tyrimas SZM metodu
dc.title.alternativeInvestigation of gas sensitive SnO layer forma tion and change of properties by SPM
dc.typeStraipsnis nerecenzuotame konferencijos darbų leidinyje / Paper in a non peer-reviewed conference publication
dcterms.references4
dc.type.pubtypeP2 - Straipsnis nerecenzuotame konferencijos darbų leidinyje / Article in an un-reviewed conference proceedings
dc.contributor.institutionPuslaidininkių fizikos institutas
dc.contributor.institutionVilniaus Gedimino technikos universitetas Puslaidininkių fizikos institutas
dc.contributor.facultyFundamentinių mokslų fakultetas / Faculty of Fundamental Sciences
dc.subject.researchfieldT 008 - Medžiagų inžinerija / Material engineering
dc.subject.researchfieldN 002 - Fizika / Physics
dc.subject.ltDujoms jautrios plėvelės
dc.subject.ltSNO
dc.subject.ltSkenuojančio zondo mikroskopas (SZM)
dc.subject.enGas sensitive layers
dc.subject.enSnO
dc.subject.enScanning probe microscope (SPM)
dcterms.sourcetitleBioinžinerija ir bioinformatika (2007 m. balandžio 5 d.) ; Fizika ir fizinė kompiuterija (2007 m. balandžio 6 d.) : 10-osios Lietuvos jaunųjų mokslininkų konferencijos "Mokslas - Lietuvos ateitis" medžiaga
dc.publisher.nameTechnika
dc.publisher.cityVilnius
dc.identifier.doiVGT02-000014793
dc.identifier.elaba5755128


Šio įrašo failai

FailaiDydisFormatasPeržiūra

Su šiuo įrašu susijusių failų nėra.

Šis įrašas yra šioje (-se) kolekcijoje (-ose)

Rodyti trumpą aprašą