Rodyti trumpą aprašą

dc.contributor.authorSamuolienė, Neringa
dc.contributor.authorZagadskij, Viktor
dc.contributor.authorTamaševičius, Remigijus
dc.contributor.authorGalickas, Aleksandras
dc.contributor.authorŠatkovskis, Eugenijus
dc.date.accessioned2023-09-18T19:35:03Z
dc.date.available2023-09-18T19:35:03Z
dc.date.issued2005
dc.identifier.other(BIS)VGT02-000012036
dc.identifier.urihttps://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/141104
dc.format.extentp. 107-110
dc.format.mediumtekstas / txt
dc.language.isolit
dc.titleAkytojo silicio sluoksnio charakterizavimas poliarizacinės elipsometrijos būdu
dc.title.alternativePorous silicon layer characterization by ellipsometric polarization way
dc.typeStraipsnis nerecenzuotame konferencijos darbų leidinyje / Paper in a non peer-reviewed conference publication
dcterms.references6
dc.type.pubtypeP2 - Straipsnis nerecenzuotame konferencijos darbų leidinyje / Article in an un-reviewed conference proceedings
dc.contributor.institutionVilniaus Gedimino technikos universitetas
dc.contributor.institutionPuslaidininkių fizikos institutas
dc.contributor.facultyFundamentinių mokslų fakultetas / Faculty of Fundamental Sciences
dc.contributor.departmentFizikos katedra / Department of Physics
dc.subject.researchfieldN 002 - Fizika / Physics
dcterms.sourcetitle8-osios Lietuvos jaunųjų mokslininkų konferencijos "Lietuva be mokslo - Lietuva be ateities" medžiaga : bioinžinerija ir bioinformatika (2005 m. balandžio 14 d.), fizika ir fizinė kompiuterija (2005 m. balandžio 8 d.)
dc.publisher.nameTechnika
dc.publisher.cityVilnius
dc.identifier.elaba3730466


Šio įrašo failai

FailaiDydisFormatasPeržiūra

Su šiuo įrašu susijusių failų nėra.

Šis įrašas yra šioje (-se) kolekcijoje (-ose)

Rodyti trumpą aprašą