• Lietuvių
    • English
  • Lietuvių 
    • Lietuvių
    • English
  • Prisijungti
Peržiūrėti įrašą 
  •   DSpace pagrindinis
  • Universiteto produkcija / University's production
  • Universiteto leidyba / University's Publishing
  • Konferencijų medžiaga / Conference Materials
  • Tarptautinės konferencijos / International Conferences
  • International Conference "Electrical, Electronic and Information Sciences“ (eStream)
  • 2025 International Conference "Electrical, Electronic and Information Sciences“ (eStream)
  • Peržiūrėti įrašą
  •   DSpace pagrindinis
  • Universiteto produkcija / University's production
  • Universiteto leidyba / University's Publishing
  • Konferencijų medžiaga / Conference Materials
  • Tarptautinės konferencijos / International Conferences
  • International Conference "Electrical, Electronic and Information Sciences“ (eStream)
  • 2025 International Conference "Electrical, Electronic and Information Sciences“ (eStream)
  • Peržiūrėti įrašą
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Evaluation of Contour-based Features for Eyeglasses Style Classification

Thumbnail
Data
2025
Autorius
Giedra, Henrikas
Katkevičius, Andrius
Plonis, Darius
Matuzevičius, Dalius
Metaduomenys
Rodyti detalų aprašą
Santrauka
Eyeglasses style classification is an important task in computer vision with applications in virtual try-on systems, retail, and personalized recommendations. Such systems must operate efficiently in real-time, even under constraints such as limited training data, class imbalance, and variable product imagery. This study explores the effectiveness of contour-based features, specifically Elliptic Fourier Descriptors (EFD), for classifying eyeglass frame styles. EFD coefficients were extracted from three contour perspectives (full frame, half-frame skeletonized, lens boundaries) and combined into a comprehensive feature representation. Classification performance was assessed using various machine learning algorithms evaluated through 5-fold cross-validation on a diverse dataset of frame designs. Nonlinear classifiers, particularly cubic SVM, fine k-NN, and neural networks, achieved superior performance, with validation accuracies exceeding 94%. The findings demonstrate the discriminative capability, robustness, and efficiency of contour-based features, underscoring their potential advantages and practical limitations relative to alternative feature extraction methods.
Paskelbimo data (metai)
2025
Autorius
Giedra, Henrikas
URI
https://etalpykla.vilniustech.lt/handle/123456789/159721
Kolekcijos
  • 2025 International Conference "Electrical, Electronic and Information Sciences“ (eStream) [51]

 

 

Naršyti

Visame DSpaceRinkiniai ir kolekcijosPagal išleidimo datąAutoriaiAntraštėsTemos / Reikšminiai žodžiai InstitucijaFakultetasKatedra / institutasTipasŠaltinisLeidėjasTipas (PDB/ETD)Mokslo sritisStudijų kryptisVILNIUS TECH mokslinių tyrimų prioritetinės kryptys ir tematikosLietuvos sumanios specializacijosŠi kolekcijaPagal išleidimo datąAutoriaiAntraštėsTemos / Reikšminiai žodžiai InstitucijaFakultetasKatedra / institutasTipasŠaltinisLeidėjasTipas (PDB/ETD)Mokslo sritisStudijų kryptisVILNIUS TECH mokslinių tyrimų prioritetinės kryptys ir tematikosLietuvos sumanios specializacijos

Asmeninė paskyra

PrisijungtiRegistruotis